倫德克（RoentDek）延遲線探測(cè)器

（延遲線探測(cè)器的功能與局限：了解更多）

單粒子 / 光子探測(cè)器

（光子計(jì)數(shù)功能）

具有時(shí)間與位置敏感性的延遲線探測(cè)器（DLD）

空間分辨率：優(yōu)于 45 微米均方根（RMS）

（最佳性能：17 微米均方根（RMS））

時(shí)間分辨率：優(yōu)于 100 皮秒均方根（RMS）

（最佳性能：21 皮秒均方根（RMS））

有效直徑：40 毫米、80 毫米（最大可達(dá) 150 毫米）

可用計(jì)數(shù)率范圍：從幾赫茲（Hz）到幾兆赫茲（MHz）

包含微通道板（MCP）

也可提供簡(jiǎn)易定時(shí)陽(yáng)極版本（僅飛行時(shí)間測(cè)量：DET40 / DET75 型號(hào)）（鏈接）

可選配置：配備熒光屏（鏈接）

操作簡(jiǎn)便

點(diǎn)擊此處了解更多           產(chǎn)品說明書（PDF 格式）

具備多擊中探測(cè)能力的探測(cè)器

（“零死時(shí)間"—— 六陽(yáng)極（HEXanode）探測(cè)器）

 三層設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)零死時(shí)間

專為多粒子事件設(shè)計(jì)

（例如：分子裂解過程）

更高的圖像線性度

有效直徑：40 毫米至 120 毫米

適用于 應(yīng)用場(chǎng)景

可選配置 1：帶中心孔的延遲線探測(cè)器

可選配置 2：搭配高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的讀出系統(tǒng)

點(diǎn)擊此處了解更多           產(chǎn)品說明書（PDF 格式）

便捷式螺栓安裝系統(tǒng)

（例如：適用于工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景）

操作簡(jiǎn)便的系統(tǒng)：

讀出陽(yáng)極置于真空環(huán)境外部

同樣適用于強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境

可支持高達(dá) 20 千伏（KV）的微通道板（MCP）電壓

點(diǎn)擊此處了解更多

光子探測(cè)

（例如：來自寬場(chǎng)顯微鏡、熒光壽命成像顯微鏡（FLIMS）的光子）

具有時(shí)間與位置敏感性的光電倍增管

適用于需位置探測(cè)的單光子計(jì)數(shù)（TCSPC，時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)）

緊湊型密封外殼

無需真空室

采用外部延遲線陽(yáng)極進(jìn)行讀出

可能的應(yīng)用場(chǎng)景：

熒光顯微鏡（FLIMS，熒光壽命成像顯微鏡）

閃爍體產(chǎn)生的次級(jí)光子流

寬場(chǎng)成像